К атомно-силовым микроскопам относятся сканирующие зондовые устройства с высоким разрешением. Данные модели оптических приборов широко применяются для определения поверхностного рельефа как непроводящих, так и проводящих образцов с максимальными показателями разрешения вплоть до атомарного, а также открывают широкие возможности для манипулирования определенными атомами.
Атомно-силовые микроскопы обладают оригинальной конструкцией и функционируют с системой обратной связи, детектором, фотодиодом, лазером, иглой и кантилевером.
Основные особенности атомно-силовых оптических приборов:
При работе с атомно-силовым микроскопом очень важно правильно подобрать зонд, в противном случае можно получить недостаточное качество полученного изображения.
Атомно-силовая микроскопия считается одной из наиболее высокоточных, мощных и перспективных методик получения изображений нанорельефа и его тщательное исследование и изучение.
Основные преимущества атомно-силовых микроскопов:
Конструкция атомно-силовых микроскопов постоянно совершенствуется, на рынке появляются новые, усовершенствованные, функциональные и производительные модели.
Современные высокоточные атомно-силовые микроскопы нашли широкое применение во многих сферах. Эти оптические устройства используются в биологии, химии, физике и других науках.
Исследования при помощи атомно-силового прибора проводятся в сфере биохимии, биофизики, фармацевтики, материаловедения, электрохимии и фотохимии, электроники и нанотехнологии, а также при исследовании коррозий.
Компания Арстек предлагает высококачественные, надежные и производительные модели атомно-силовых микроскопов от ведущих мировых производителей. Современные оптические устройства соответствуют всем требованиям, которые предъявляются к ультрасовременному аналитическому оборудованию и сочетают в себе простоту эксплуатации и расширенные исследовательские возможности.
Современные модели атомно-силовых микроскопов укомплектовываются огромным количеством дополнительных измерительных модулей и разнообразными опциями, что значительно упрощает получение высококачественных изображений посредством различных атомно-силовых микроскопических методик.